Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, PLD process, substrate Ni-W, reel-to-reel process, critical caracteristics, critical current, YBCO
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, fabrication, substrate Ni-W, reel-to-reel process
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, magnetron sputtering, buffer layers, fabrication, microstructure, reel-to-reel process
Ключевые слова: oxypnictides, magnetic properties, upper critical fields, magnetization, experimental results, hysteresis
Ключевые слова: presentation, HTS, REBCO, coated conductors, co-evaporation process, IBAD process, fabrication
Ключевые слова: oxypnictides, fabrication, resistive transition
Kim H.S., Youm D., Yoo J., Ha H.S., Ha D.W., Song K.J., Ko R.K., Oh S., Lee N.J., Moon S.H., Yoo S.I., Yang J.S., Kim T.H., Kim H.K., Ko K.P., Yu K.K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, RABITS process, IBAD process, co-evaporation process, long conductors, fabrication, composition, microstructure, critical current density, oxygenation treatments, heat treatment, current-voltage characteristics, Jc/B curves, YBCO, PLD process, angular dependence, presentation, critical caracteristics
Ключевые слова: chemical solution deposition, buffer layers, substrate Ni-W, coated conductors, fabrication
Ключевые слова: MgB2, films, HPCVD process, in-situ process, fabrication
Gu H.W., Yang J., Wang L., Zhang L., Kim J.H., Song W.H., Zhu X.B., Sun Y.P., Dou S.X., Shi D.Q., Zeng R., Lei H.C., Yang Z.R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, seed layers, thickness dependence, composition, chemical solution deposition, fabrication, MOD process, microstructure
Kim H.S., Park C., Oh S.S., Ha D.W., Song K.J., Ko R.K., Joo J.H., Moon S.H., Yoo S.I., Yang J.S., Kim H.K., Ha H.S.*21, Jung Y.H., Yoo K.K., Youm D.J.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, electron beam evaporation, co-evaporation process, composition, substrate cylindrical, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, chemical solution deposition, texture, microstructure, fabrication
Kim H.S., Youm D., Park C., Oh S.S., Ha H.S., Song K.J., Ko R.K., Lee N.J., Park Y.M., Moon S.H., Yoo S.I., Yang J.S., Kim T.H., Jeong H.Y.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, substrate Ni-W, buffer layers, fabrication
Oh S.-S., Ha H.-S., Kim S.-C.(sckim@nexanskorea.com), Yang J.-S., Ha D.-W.(dwha@keri.re.kr)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.